納米粒度測量——先進的動態光背散射技術

Zeta電(dian)位測量：Microtrac MRB以(yi)其在激光(guang)衍射/散射技術(shu)和(he)顆粒(li)表征方面的(de)(de)獨到(dao)見解，經過多(duo)年的(de)(de)市場(chang)(chang)調研和(he)潛心研究，開發出新一代NANOTRAC WAVE II微電(dian)(dian)場(chang)(chang)分(fen)析技術(shu)，融納米顆粒(li)粒(li)度(du)分(fen)布(bu)與Zeta電(dian)(dian)位(wei)(wei)(wei)測量(liang)(liang)于(yu)一體(ti)，無(wu)需傳統的(de)(de)比(bi)(bi)色皿(min)，一次進(jin)樣即可得到(dao)準(zhun)確(que)的(de)(de)粒(li)度(du)分(fen)布(bu)和(he)Zeta電(dian)(dian)位(wei)(wei)(wei)分(fen)析數據。與傳統的(de)(de)Zeta電(dian)(dian)位(wei)(wei)(wei)分(fen)析技術(shu)相比(bi)(bi)，NANOTRAC WAVE II采用(yong)先進(jin)的(de)(de)“Y"型(xing)光(guang)纖探針光(guang)路設計，配置(zhi)膜(mo)電(dian)(dian)極產生微電(dian)(dian)場(chang)(chang)，操作簡單，測量(liang)(liang)迅速，無(wu)需精確(que)定位(wei)(wei)(wei)由于(yu)電(dian)(dian)泳(yong)和(he)電(dian)(dian)滲(shen)等效(xiao)應(ying)導致(zhi)的(de)(de)靜止層，無(wu)需外加大功(gong)率(lv)電(dian)(dian)場(chang)(chang)，無(wu)需更換(huan)分(fen)別用(yong)于(yu)測量(liang)(liang)粒(li)度(du)和(he)Zeta電(dian)(dian)位(wei)(wei)(wei)的(de)(de)樣品池，*消除(chu)由于(yu)空間(jian)位(wei)(wei)(wei)阻（不(bu)同光(guang)學(xue)元器件間(jian)的(de)(de)傳輸損(sun)失(shi)，比(bi)(bi)色皿(min)器壁(bi)的(de)(de)折射和(he)污染，比(bi)(bi)色皿(min)位(wei)(wei)(wei)置(zhi)的(de)(de)差異，分(fen)散介質的(de)(de)影響，顆粒(li)間(jian)多(duo)重散射等）帶來的(de)(de)光(guang)學(xue)信號的(de)(de)損(sun)失(shi)，結果準(zhun)確(que)可靠，重現性(xing)好。

測量原理(li)：

粒度測量：動態(tai)光背散(san)射技術(shu)和全量程米氏理(li)論處理(li)

Zeta電位測(ce)量(liang)：膜電極(ji)設(she)計(ji)與(yu)“Y"型(xing)探(tan)頭形成微電場(chang)測(ce)量(liang)電泳遷移率

分子量測量：水(shui)力直(zhi)徑(jing)或德拜(bai)曲線(xian)

光學系統：

3mW780nm半導體固定位置激(ji)光(guang)器，通過(guo)梯(ti)度步(bu)進光(guang)纖直(zhi)接(jie)照射(she)樣品，在固定位置用(yong)硅光(guang)二極管接(jie)受(shou)背散射(she)光(guang)信號(hao)，無需校正光(guang)路

軟件系統：

先進(jin)的FLEX軟件提供強大(da)的數據(ju)(ju)處理(li)能(neng)力，包括(kuo)(kuo)圖形，數據(ju)(ju)輸出(chu)/輸入，個性(xing)(xing)化(hua)輸出(chu)報告，及各種文字處理(li)功能(neng)，如PDF格式(shi)(shi)輸出(chu), Internet共(gong)享數據(ju)(ju)，Microsoft Access格式(shi)(shi)（OLE）等。體積，數量，面積及光強分(fen)布(bu)，包括(kuo)(kuo)積分(fen)/微分(fen)百分(fen)比和其他分(fen)析統計數據(ju)(ju)。數據(ju)(ju)的完(wan)整性(xing)(xing)符合21 CFR PART 11安全(quan)要求，包括(kuo)(kuo)口令保護，電子簽名和指定授權等。

外部環(huan)境：

電源(yuan)要(yao)求：90-240VAC，5A，50/60Hz

環境要(yao)求：溫度，10-35°C

國際標準(zhun)：符合(he)ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008

主要特點(dian)：

• 采用先進(jin)的動態光散(san)射技術(shu)，引入能普概念代替傳(chuan)統(tong)光子相關光譜法

• “Y"型光纖光路系統，通過藍寶(bao)石測量窗(chuang)口(kou)，直接測量懸浮體系中的(de)顆粒粒度分布，在加(jia)載電流的(de)情況下，與膜(mo)電極(ji)對應(ying)產生微電場(chang)，測量同一體系的(de)Zeta電位， 避免樣品(pin)交叉污染與濃度變化。

• 異相多譜勒頻移技術，較之傳統的(de)方法，獲得(de)光信號強度高(gao)出幾個數量級，提高(gao)分析結(jie)果的(de)可靠性(xing)。

• 可控參比方(fang)法（CRM），能精細(xi)分析多(duo)譜勒頻移產生(sheng)的(de)能譜，確保(bao)分析的(de)靈敏度。

• 超(chao)短的(de)顆粒在懸浮液(ye)中的(de)散射光程設計(ji)，減少了多重散射現象的(de)干擾，保(bao)證高濃度(du)溶液(ye)中納米(mi)顆粒測試(shi)的(de)準確性(xing)。

• 快速傅利葉變(bian)換算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅(xun)速處理檢(jian)測系統獲(huo)得的(de)能譜，縮(suo)短分析(xi)時間(jian)。

• 膜電極設(she)計，避免產生熱效應，能(neng)準確(que)測(ce)量顆粒電泳速度。

• 無需(xu)比色(se)皿，毛細(xi)管電泳池或外加電極池，僅需(xu)點擊Zeta電位操(cao)作(zuo)鍵，一分(fen)鐘內即可(ke)得到(dao)分(fen)析結果

• 消除多種空間位阻對散(san)(san)射(she)(she)光(guang)信號的(de)(de)(de)干(gan)擾，諸如(ru)光(guang)路中不同(tong)(tong)光(guang)學元器件間傳輸的(de)(de)(de)損(sun)失(shi)，樣品(pin)池(chi)位置(zhi)不同(tong)(tong)帶來的(de)(de)(de)誤差，比(bi)色(se)皿器壁的(de)(de)(de)折射(she)(she)與污(wu)染(ran)，分散(san)(san)介質(zhi)的(de)(de)(de)影響(xiang)，多重散(san)(san)射(she)(she)的(de)(de)(de)衰(shuai)減等，提高(gao)靈敏度。