作(zuo)為激光散射技術(shu)研(yan)究(jiu)的先行(xing)者，經過近半個世紀的不斷探索，開發出一代又一代先進的激光粒度分析儀。全新的S3500系列激光粒度分析儀以(yi)革新(xin)的技術，拓展測試(shi)下限至0.01μm。它采用現(xian)代模(mo)塊式設計，內置高能(neng)量(liang)，高穩定(ding)性，超長(chang)壽命的固體二級(ji)管激光(guang)器。對非球形顆粒的米氏理論修正(zheng)，保(bao)證每一次樣(yang)品(pin)分析(xi)的測量(liang)精度(du)。

Microtrac S3500系列產(chan)品(pin)

藍(lan)波2型(BWDL))：濕法(fa)測量范圍(wei)：0.01-2,800μm；

藍波1型(BWSL))：濕法測量范圍：0.01-2,000μm；

增強型(Enhanced)：濕(shi)法(fa)測量范圍：0.02-2,800μm；

擴展型(eXtended)：濕(shi)法測量(liang)范圍：0.02-2,000μm；

特殊型(speciaL)：濕法測量范圍：0.09-1,500μm；

標(biao)準型(xing)(Standard)：濕法(fa)測量范圍：0.25-1,500μm；

高端型(High)：濕法測(ce)量范(fan)圍(wei)：2.75-2,800μm；

基本型(Basic)：濕法測量范圍：0.70-1,000μm；

* 歡迎定制更寬的測量范圍

主(zhu)要特點：

• Tri-Laser激(ji)光(guang)系統, *消(xiao)除了不同(tong)波(bo)長(chang)光(guang)源(yuan)對顆粒(li)散射光(guang)分(fen)布“連接點"的影響和多次米氏(shi)理論(lun)（Mie Theory）數學處(chu)理的誤差（米氏(shi)理論(lun)處(chu)理與波(bo)長(chang)有關）;

• “Bluewave"激(ji)光技術，拓展測(ce)量下限至(zhi)0.01μm;

• 無(wu)需掃描(miao)，同步接受全量(liang)(liang)程散射光信(xin)號，保證(zheng)分析結果的高(gao)重(zhong)現性及(ji)全量(liang)(liang)程范圍的高(gao)分辨率;

• 引進(jin)“非球形"顆粒(li)(li)概念對米氏(shi)理論計(ji)算的校(xiao)正因(yin)子(zi)，內置常用(yong)分析(xi)物質光學數據庫，提高顆粒(li)(li)粒(li)(li)度分布測(ce)試的準確性;

• 系統(tong)自動(dong)對光，內置輔助光源(yuan)用于檢驗和校正檢測(ce)器(qi)的靈敏度;

• 多種樣(yang)品分散系統可(ke)供選擇，各種分散系統之間的轉換簡單方便，結(jie)果(guo)穩定一致;

• 現(xian)代模塊式(shi)設計，可根據(ju)實際應用需要允許選擇(ze)儀(yi)器的(de)配置，以滿足將來(lai)的(de)任何需要;

• 數據(ju)處(chu)理(li)靈活方便(bian)，體積分(fen)(fen)布(bu)，數量分(fen)(fen)布(bu)和強(qiang)度分(fen)(fen)布(bu)，微分(fen)(fen)與累計(ji)百分(fen)(fen)比以及其(qi)他(ta)綜合報告形(xing)式(shi)任(ren)意組合，數據(ju)存儲兼容性強(qiang);

• NIST(National Institute of Standards & Technology)標(biao)準(zhun)物質指(zhi)定認證儀器;

日本(ben)型(xing)號：MT3300、MT3200、MT3100