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X射線熒光光譜儀的設計特點及工作原理

2023-02-23

  X射線熒光光譜儀具有(you)重現性好,測(ce)(ce)量(liang)速度(du)快(kuai),靈敏度(du)高的特點。能(neng)分(fen)(fen)析F(9)~U(92)之間所有(you)元素。樣(yang)品可以(yi)是固體(ti)、粉末、熔融片,液體(ti)等,分(fen)(fen)析對(dui)象適用于煉鋼、有(you)色金屬、水(shui)泥(ni)、陶瓷、石油(you)、玻璃等行業樣(yang)品。無標半(ban)定量(liang)方法可以(yi)對(dui)各種形狀樣(yang)品定性分(fen)(fen)析,并能(neng)給出半(ban)定量(liang)結果(guo),結果(guo)準(zhun)確度(du)對(dui)某些樣(yang)品可以(yi)接(jie)近定量(liang)水(shui)平(ping),分(fen)(fen)析時(shi)間短。薄(bo)膜分(fen)(fen)析軟(ruan)件(jian)FP-MULT1能(neng)作鍍層分(fen)(fen)析,薄(bo)膜分(fen)(fen)析。測(ce)(ce)量(liang)樣(yang)品的最(zui)大尺寸(cun)要求為(wei)直徑51mm,高40mm。
  
  X射線熒光光譜儀的特點:
  
  1、X射線(xian)熒光(guang)(XRF)是一(yi)種非破壞性的元(yuan)素分析(xi)技術,可(ke)以測量您的工(gong)(gong)藝流,而不會造成(cheng)任何損失(shi)或化學/物理變化。由此實現的實時在線(xian)分析(xi)可(ke)以快速(su)優化許多(duo)工(gong)(gong)藝參數(shu)和產品(pin)屬性。
  
  2、EpsilonXflow采用經過驗證(zheng)的(de)強大Epsilon3X技(ji)術,該技(ji)術由激發和探(tan)測技(ji)術提(ti)供支持。設(she)計精良的(de)光(guang)路、適合輕元(yuan)素和重(zhong)元(yuan)素的(de)廣泛激發功能,加(jia)上高靈敏度(du)SDD探(tan)測器系(xi)統,這(zhe)一切(qie)造就了(le)Epsilon3X的(de)強大性能。所(suo)有這(zhe)些(xie)創新共同產(chan)生(sheng)了(le)高度(du)可重(zhong)復和準確的(de)結果,并且維(wei)護需求低。
  
  3、EpsilonXflow的(de)靈活設計使其在許多不(bu)同的(de)工藝(yi)和工藝(yi)條件下都(dou)可(ke)輕松(song)地實現集(ji)成(cheng)。我們提供完(wan)整解決方(fang)案,能夠應(ying)對不(bu)同的(de)條件。
  
  X射線熒光光譜儀(XRF)是由激發源(X射線管)和探測系統組成的。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品。每一種元素會放射出二次X射線在受到激發的樣品中,然而具有特定的能量特性或波長特性是由不同的元素所放射出的二次X射線。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。之后成樣品中各種元素的種類及含量被儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成。
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